性能和标准：

使用广受推崇的能量色散X 射线荧光（EDXRF）技术, X-Strata920 可实现如下测试要求：

•   符合ISO3497 标准测试方法：金属镀层——X 射线光谱法测量镀层厚度

•   符合ASTM B568 标准测试方法：X 射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层

至多同时分析25 种元素

标准硬件特点介绍：

•   开槽式样品仓结合电机驱动样品台，可测量各种尺寸样品，包括小元件和大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路板。所有样品可以很方便地用程控XY 平台放置并快速定位到样品上的各个待测点进行分析。

•   经过简单易学的指导，用户即可通过编程完成自动测量，实现最大的样品测试量和无人操作的测试。

•   使用鼠标控制，可以方便地放置被测样品/零件，并且精确定位到测试点。

•   样品放置方便

•   Z 轴自动控制（Z 向行程：19mm/0.75”）

•   样品定位方便

•   样品台尺寸：560mm (22") 深x 610mm (24") 宽

•   XY 向行程：178mm (7")   x 178mm (7")

最大样品高度16mm (0.63”)。

简洁.坚固.耐用的设计：

•   经实践验证、坚固、耐用的设计，可在绝大多数严苛的工业条件下使用。

•   空间占用小–节约宝贵的工作台空间，也可近产线放置。

计算机提供USB 和以太网接口用于连接打印机、光驱和网络。

硬件配置概要:

开槽式样品仓，XY 程控样品台，4 准直器（0.05x0.05mm/2x2mil, 0.05x0.25mm/2x10mil, 0.15mm/6mil Ø and 0.3mm/12mil Ø），Co 二次滤波器（准直器规格可调换）

能RF 用于快速的镀层厚度测量和材料点